Statistics and Graphics

実世界の測定の多くは、サンプルを収集することによって最初に研究されています。それらが属する分布を特定すると、その既知の分布から生成された乱数を使用してデータをシミュレートできます。

このツールを使用すると、選択した分布のパラメータを設定できます。トリガーアイコンをクリックしてデータを生成し、ヒストグラムを表示します。繰り返し実行することで、実際のサンプル測定値を収集した場合と同じ分布からのサンプリングの変動を視覚的に把握することができます。このプロセスはよく知られているモンテカルロシミュレーションです。

同様にあなたは確率を調べることができ、それは逆です。分布と入力レベルも表示されます。

線形、ロジスティック回帰、残差プロットをサポートします。生存曲線によるコックス回帰

散布図、主成分図、多次元尺度法、Kaplan-Meier曲線、回転を伴う3Dプロットのプロットをサポート